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卡片檢測
  • 2011年11月28日，恩智浦半導體近日宣布推出行業(yè)首款新一代高性能近距離非接觸式讀卡器IC CLRC663。CLRC663集強大的多協(xié)議支持、最高射頻輸出功率，以及突破性專利技術(shù)低功耗卡片檢測等優(yōu)勢于一身，滿足市場對更高集成度、更小外殼和互操作性的需求，適用于銀行、電子政務、交通、移動支付等眾多基礎(chǔ)設(shè)施應用。
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  • 卡片檢測是支撐全球卡片支付行業(yè)信心矩陣的重要組成部分。如果沒有可靠有效的卡片物理和電氣特性測試，卡支付失敗等問題也會隨之發(fā)生。這也將逐漸削弱消費者的信心，并可能導致發(fā)卡機構(gòu)市場份額的損失或者品牌形象受到影響。同樣地，卡片本身和終端的軟件和硬件也可能成為故障點。所有涉及卡測試行業(yè)的公司都努力幫助發(fā)卡機構(gòu)和卡制造商去防止卡片可能出現(xiàn)的任何問題，同時也保證其軟件的互操作性。
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