新科金朋采購(gòu)惠瑞捷Port Scale射頻(RF)測(cè)試解決方案

　　新科金朋(STATS ChipPAC)采購(gòu)惠瑞捷(Verigy)Port Scale射頻(RF)測(cè)試解決方案，以測(cè)試高整合度的無(wú)線射頻元件。

　　Verigy V93000是一套可擴(kuò)充的機(jī)臺(tái)架構(gòu)，能用以測(cè)試系統(tǒng)單晶片(SoC)、系統(tǒng)級(jí)封裝(SIP)、以及高速記憶體元件。能解決業(yè)者在進(jìn)行原速(At-speed)的工程特性量測(cè)或是大量生產(chǎn)測(cè)試的性能及成本上面臨的嚴(yán)苛挑戰(zhàn)。

　　Port Scale射頻測(cè)試解決方桉可為整合元件(內(nèi)含射頻、溷合訊號(hào)、數(shù)位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路)，提供高效率的多元件(Multi- site)測(cè)試能力以及所需的測(cè)試埠數(shù)。這套測(cè)試系統(tǒng)可提供大規(guī)模的多元件測(cè)試能力，支援高達(dá)12.8Gbps的資料速率，以及各種數(shù)位、溷合訊號(hào)、射頻及無(wú)線通訊的應(yīng)用，如蜂巢式通訊、WLAN、WiMAX及UWB等。