Atmel發(fā)布具備先進(jìn)功耗可視化功能的高性能調(diào)試工具，面向超低功耗設(shè)計

　　Atmel?公司 16日發(fā)布一款高精度調(diào)試工具，可在產(chǎn)品開發(fā)階段將產(chǎn)品的功耗可視化。隨著超低功耗成為下一代物聯(lián)網(wǎng)(IoT)、可穿戴和電池供電型設(shè)備的一個關(guān)鍵因素，能夠找出引發(fā)峰值功耗的代碼對于實(shí)現(xiàn)總體設(shè)計的超低功耗至關(guān)重要。全新的Power Debugger是Atmel最新的開發(fā)工具，旨在調(diào)試和編制Atmel |SMART ARM? Cortex?-M MCU以及使用JTAG、SWD、PDI、debugWIRE、aWire、TPI或SPI目標(biāo)接口的Atmel AVR? MCU。

　　除了標(biāo)準(zhǔn)的基本調(diào)試功能之外， Power Debugger還配備兩條獨(dú)立的電流檢測通道，用于在應(yīng)用執(zhí)行期間采集實(shí)時功率測量結(jié)果。Atmel Power Debugger將所采集的功率測量結(jié)果發(fā)送至Atmel Studio 7 IDE 中的Atmel Data Visualizer，進(jìn)行實(shí)時分析和顯示。Data Visualizer以圖形方式顯示實(shí)時功耗，并使用這些數(shù)據(jù)估算應(yīng)用的電池壽命。此外，開發(fā)人員還能用Data Visualizer將功耗樣本與樣本被采集時執(zhí)行的代碼進(jìn)行關(guān)聯(lián)，從而大幅縮短了識別開發(fā)者應(yīng)用中 的“熱點(diǎn)”所需的時間。

　　Atmel公司軟件開發(fā)、應(yīng)用與工具業(yè)務(wù)部副總裁Steve Pancoast表示：“降低總功耗是眾多消費(fèi)類產(chǎn)品設(shè)計的關(guān)鍵，且對于電池供電型設(shè)計和可穿戴設(shè)計也至關(guān)重要。Atmel提供各種經(jīng)濟(jì)高效的易用工具，可幫助開發(fā)人員分析他們自己硬件設(shè)備上應(yīng)用的功耗，并將其作為標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)周期的一部分。Power Debugger體現(xiàn)了Atmel將最新工具推向市場以幫助開發(fā)人員以最低功耗將原型設(shè)計迅速投入生產(chǎn)的承諾。”