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關(guān)于RFID/NFC標(biāo)簽的低成本測試設(shè)計(jì)淺析

作者:佚名
來源:RFID世界網(wǎng)
日期:2019-01-17 17:09:28
摘要:RFID技術(shù)和基于RFID發(fā)展起來的NFC技術(shù)都是屬于近場通訊的范疇,在物聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域都有極大的應(yīng)用。兩者都基于電磁感應(yīng)原理,利用無線射頻信號對目標(biāo)進(jìn)行識別和通訊,讀寫距離是評估其系統(tǒng)的重要指標(biāo),而標(biāo)簽的諧振頻率是影響這個指標(biāo)的關(guān)鍵參數(shù)。

  RFID技術(shù)和基于RFID發(fā)展起來的NFC技術(shù)都是屬于近場通訊的范疇,在物聯(lián)網(wǎng)領(lǐng)域都有極大的應(yīng)用。兩者都基于電磁感應(yīng)原理,利用無線射頻信號對目標(biāo)進(jìn)行識別和通訊,讀寫距離是評估其系統(tǒng)的重要指標(biāo),而標(biāo)簽的諧振頻率是影響這個指標(biāo)的關(guān)鍵參數(shù)。

關(guān)于RFID/NFC標(biāo)簽的低成本測試設(shè)計(jì)淺析

  RFID和NFC的無源標(biāo)簽封裝好之后只能采用非接觸法測量其諧振頻率。非接觸法測量方法原理是反射測量,通過測量反射參數(shù)的S11,觀察S11最大負(fù)峰值對應(yīng)的頻率值,即可得到標(biāo)簽的諧振頻率。

  測試儀器選擇:

  為了保證非接觸測量方法的可靠性與可信度,我們采取了兩種測量方法進(jìn)行測量:

  方法一:使用鼎陽SSA3000X頻譜分析儀、TG 跟蹤源、反射電橋、反射測量軟件進(jìn)行測量

  方法二:使用鼎陽SVA1000X 頻譜&矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、機(jī)械校準(zhǔn)件、VNA(矢量網(wǎng)絡(luò)測量軟件選件)進(jìn)行測量

  SSA3000X和SVA1000X兩款設(shè)備都具有反射測量功能,可以測量反射系數(shù)(ρ)、回波損耗(Return Loss)、和電壓駐波比(VSWR)等指標(biāo)。SVA1000X內(nèi)置了反射電橋,而SSA3000X已經(jīng)在TG Source端校準(zhǔn),無需機(jī)械校準(zhǔn)件,同時使用安捷倫網(wǎng)絡(luò)分析儀對以上兩種方案進(jìn)行驗(yàn)證。

  RFID標(biāo)簽實(shí)際測試:

  以下測試采用的是遵循ISO/IEC 14443 TypeA 標(biāo)準(zhǔn)的RFID無源標(biāo)簽,標(biāo)定頻率為13.56MHz,使用近場探頭代替13.56MHz的測量環(huán)路天線。測量時保持近場探頭和RFID標(biāo)簽的測量距離為1cm,用Marker讀取負(fù)峰值。

關(guān)于RFID/NFC標(biāo)簽的低成本測試設(shè)計(jì)淺析

  SSA3000X設(shè)置:

  1.首先連接反射電橋:

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  IN(TG)端口:信號輸入端,用于連接電橋與頻譜儀跟蹤源TG Source輸出端口

  OUT(RF)端口:信號輸出端,用于連接電橋與頻譜儀RF Input射頻輸入端

  DUT 端口:用于連接電橋與被測設(shè)備,本例中連接近場探頭

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  2. 按下Mode按鍵,選擇反射測量功能。

  1) 校準(zhǔn)開路載,校準(zhǔn)開路載前需要斷開被測設(shè)備,校準(zhǔn)完成后,就可以在屏幕下方看到回波損耗,反射系數(shù),電壓駐波比等參數(shù)。

  2) 選擇合適的刻度和參考電平。本例中選擇刻度為1dB,參考電平 6dB。

  3) 選擇頻率,起始頻率設(shè)置為11MHz,終止頻率為15MHz。

  SSA3000X測試結(jié)果:SSA3000X測試出RFID諧振頻率約為13.85MHz,回波損耗為1.44dB,電壓駐波比約為12.13。

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