企業(yè)或RFID系統(tǒng)集成商在進(jìn)行RFID系統(tǒng)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)施之前,需要對(duì)所制訂的RFID系統(tǒng)方案進(jìn)行測(cè)試,校核方案的可行性,降低RFID項(xiàng)目的實(shí)施風(fēng)險(xiǎn)。有別于對(duì)RFID芯片、讀寫器、天線等產(chǎn)品進(jìn)行的性能測(cè)試,這種測(cè)試是一種應(yīng)用測(cè)試,是在附近實(shí)際應(yīng)用環(huán)境的場(chǎng)景下,對(duì)RFID實(shí)施方案進(jìn)行測(cè)試,RFID系統(tǒng)實(shí)施者可以根據(jù)測(cè)試結(jié)果不斷修改和完善方案,并積累RFID項(xiàng)目實(shí)施經(jīng)驗(yàn),盡可能減少在企業(yè)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)施時(shí)出現(xiàn)問(wèn)題的可能性,這樣可以增強(qiáng)企業(yè)對(duì)RFID技術(shù)的信心,有利于RFID技術(shù)的應(yīng)用推廣。