CISC首款RAIN RFID讀寫器測試儀上市

　　CISC Semiconductor基于最新RAIN RFID讀寫器性能測試流程的首款 CISC RFID Xplorer – Reader Tester 現已上市。

　　該工具用于測量RAIN RFID UHF 讀寫器，包含了讀卡器性能參數的測量，如接收靈敏度，和讀卡器一致性測試。其內置監(jiān)聽功能為空氣界面提供全面的分析，以支持讀卡器應用設置的優(yōu)化。該工具可分析RFID讀寫器和標簽信號，實時完成讀寫器指令和標簽響應的探測及解碼。

　　CISC RFID Xplorer借助其仿真功能，模擬實際的RAIN RFID UHF 標簽以用于分析、驗證和優(yōu)化RFID系統(tǒng)安裝或單個RFID讀寫器。

　　標簽仿真器克服了標準RFID標簽的限制，可用于RFID應用程序和RFID讀卡器的測試和研發(fā)支持。它可允許標簽參數徹底變化并超過標準RFID標簽的有效容限。這結果可拓展超出標準極限的測試，也即由于參數修改的限制，以至于其不可在RFID標簽的特性中設置。為了支持如RFID讀寫器研發(fā)和RFID系統(tǒng)評估等任務，它可提供可調的標簽特性和拓展記錄的可能性。