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一文看懂 | 芯片是怎么來的?

作者:夏珍
日期:2020-07-23 17:36:21
摘要:芯片是半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱,是電子學(xué)中將電路小型化的一種方式。雖然,在日常生活中,我們常將芯片、集成電路和半導(dǎo)體混同使用,但它與半導(dǎo)體和集成電路其實略有不同,通常半導(dǎo)體指的是一類材料的總稱,集成電路是用半導(dǎo)體材料加工而成的小型化電路的大型集合,而芯片則是由一種或多種類型的集成電路形成的產(chǎn)品。如果將其映射到生活中,那么半導(dǎo)體是纖維,集成電路布料,而芯片則是衣服,這樣是不是很好理解了呢?

什么是芯片?

 

 
芯片是半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱,是電子學(xué)中將電路小型化的一種方式。雖然,在日常生活中,我們常將芯片、集成電路和半導(dǎo)體混同使用,但它與半導(dǎo)體和集成電路其實略有不同,通常半導(dǎo)體指的是一類材料的總稱,集成電路是用半導(dǎo)體材料加工而成的小型化電路的大型集合,而芯片則是由一種或多種類型的集成電路形成的產(chǎn)品。如果將其映射到生活中,那么半導(dǎo)體是纖維,集成電路布料,而芯片則是衣服,這樣是不是很好理解了呢?


時間軸上的 “芯”路歷程

 


圖源:Computer History Museum


從上述定義可知,講芯片的發(fā)展史,核心就是要講清楚半導(dǎo)體材料和集成電路的發(fā)展史。


集成電路的早期概念可以追溯到 1949 年,當(dāng)時來自西門子的一位德國工程師 Werner Jacobi 在助聽器中采用了一個專利,在該專利中就提到了在三級放大器中實現(xiàn)了五個晶體管排布在同一基板上的技術(shù),并實現(xiàn)了助聽器的小型、低價化。


1952 年,一位名叫 Geoffrey Dummer 的英國國防部皇家雷達(dá)局科學(xué)家在華盛頓質(zhì)量電子元件進(jìn)展研討會上向公眾提出了集成電路的概念。電工實驗室的 Sidney Darlington 和 Yasuro Tarui 又進(jìn)一步提出了類似的芯片設(shè)計,只是此時的集成電路還是非電氣隔離的。


1957 年,貝爾實驗室的 Mohamed M. Atalla 開發(fā)出了通過熱氧化使硅表面實現(xiàn)電穩(wěn)定的表面鈍化工藝,該表面鈍化工藝隔離了單個的二極管和晶體管,從而使硅基單片集成電路芯片成為可能。


1958 年,來自德州儀器的 Kilby 成功演示了集成電路的第一個工作示例,并于次年申請了發(fā)明專利,該專利后來榮獲了 2000 年諾貝爾物理學(xué)獎,但是該集成電路的工作需要外部連線的配合才能實現(xiàn)工作,也就只能算是混合集成電路,談不上真正意義上的單片集成電路芯片。


1959 年,仙童半導(dǎo)體的 Jean Hoerni 在表面鈍化工藝的基礎(chǔ)上實現(xiàn)了平面工藝,來自 Sprague Electric 的 Kurt Lehovec 將隔離技術(shù)擴(kuò)展到單個硅片上的獨立晶體管。說白了就是,每個晶體管盡管是嵌入到了同一塊硅上,卻都能獨立運行。在此基礎(chǔ)上,同樣來自 Sprague Electric 的 Robert Noyce 同年發(fā)明了世界上第一款單片集成電路芯片。


1960 年,貝爾實驗室的 Mohamed M. Atalla 又提出了 MOS 集成電路芯片,對比雙極性晶體管,MOSFET 更易形成電氣隔離。


MOS 集成電路的出現(xiàn)奠定了當(dāng)代集成電路芯片的基礎(chǔ),隨著技術(shù)的不斷精進(jìn),到 1964 年,MOS 芯片已實現(xiàn)了比雙極芯片更高的晶體管密度和更低的制造成本。


MOS 芯片的復(fù)雜度進(jìn)一步以摩爾定律所預(yù)測的速度在增加,從 1960 年代后期的大規(guī)模集成(LSI),經(jīng)歷 1970 年代的超大規(guī)模集成(VLSI),到 1980 年代的超大規(guī)模集成(VLSI)和甚大規(guī)模集成(ULSI),再到現(xiàn)在最頂尖的 7nm 技術(shù)和系統(tǒng)級芯片。在這過程中,我們經(jīng)歷了一次前所未有的科技革命,芯片或者說集成電路徹底改變了人們的工作、生活方式。


一群硅基芯片的誕生過程:設(shè)計+制造+測試


 
來源:知網(wǎng)論文


設(shè)計篇


 
圖源:einfochips


規(guī)格制定


在芯片設(shè)計公司內(nèi)部,設(shè)計一枚芯片的第一步是通過管理和數(shù)據(jù)分析起草一份提案,使該該設(shè)計能從一開始就滿足行業(yè)細(xì)分要求。此時高層設(shè)計人員會開會,進(jìn)行可行性分析,并在此基礎(chǔ)上確定芯片的功能和運行方式,并確定性能、功能、物理尺寸、制造技術(shù)和設(shè)計技術(shù)等主要設(shè)計參數(shù)。


架構(gòu)定義


定義系統(tǒng)的基本規(guī)范,比如浮點單元等;確定要使用的系統(tǒng),比如精簡指令集計算機(RISC)或復(fù)雜指令集計算機(CISC);敲定 ALU 緩存大小的數(shù)量等。


功能設(shè)計


定義系統(tǒng)的主要功能單元,從而有助于識別單元之間的互連要求,還有每個單元的物理、電氣規(guī)格。


邏輯設(shè)計


開發(fā)出布爾表達(dá)式、控制流、字寬、寄存器分配等,并采用 VHDL 或 Verilog HDL 硬件描述語言將功能用代碼描述出來,形成寄存器傳輸級別(RTL)代碼。


電路設(shè)計


邏輯設(shè)計給出了簡化的邏輯實現(xiàn),而電路設(shè)計則是以網(wǎng)表的形式進(jìn)一步將該邏輯表示出來,網(wǎng)表通常由門、晶體管和各種互連組成,而電路設(shè)計的效果可以由仿真得到。


物理設(shè)計


在此步驟中實現(xiàn)了網(wǎng)表到其幾何表示的轉(zhuǎn)換,其結(jié)果稱為布局,它可以從功能上對綜合后的網(wǎng)表進(jìn)行驗證。此步驟遵循一些預(yù)定義的固定規(guī)則,例如 lambda 規(guī)則,該規(guī)則提供了組件大小、比例和間距等確切的詳細(xì)信息。下一步是對完成布線的物理版圖進(jìn)行功能和時序上的驗證,驗證項目通常包括 LVS、DRC、ERC 等,當(dāng)然還包括一些功耗分析以及可制造性分析。


設(shè)計工藝導(dǎo)出


這是芯片設(shè)計的最后一步,即將設(shè)計工藝文件按照芯片代工廠的要求導(dǎo)出來,設(shè)計公司保留原設(shè)計稿可做靈活性的修改,而相對定版的工藝文件——物理版圖以 GDS II 的文件格式交由芯片代工廠作為制造依據(jù)。


制造與測試篇


 
圖源:Joseph A. Elias, PhD


打開工藝的卷軸,里面記錄了沙子的升華史,我們通過它,了解到了芯片是如何制成的。


提煉單晶硅錠


 
圖源:VIDHYARTHE


最廉價的硅來源非沙子莫屬,因此半導(dǎo)體材料中采用的硅元素就是從沙子(SiO?)中提取出來的。通常,生產(chǎn)單晶硅錠的公司會將沙子從的硅元素提取出后來經(jīng)過高溫整形、多次提純等手段得到電子級硅(EGS),純度為 99.9999%。然后將純硅在 1400oC 的鍋中融化,把包含所需晶體取向的小晶種插入熔融的硅中,再緩慢地(1 毫米 / 分鐘)拔出,這樣硅晶體就被制造成了圓柱形的單晶硅錠,單個單晶硅錠的重量約為 100 公斤。


晶圓加工


 
圖源:Cismst


晶圓加工主要包含兩個步驟,第一步是將單晶硅錠橫向鋸成圓盤,再進(jìn)行拋光和晶體定向,得到如鏡面般平整的晶圓。第二步是對晶圓進(jìn)行熱氧化,這個時候純硅會經(jīng)過充氧的高溫爐,從而在表面形成一層很薄的二氧化硅,作為晶體管的進(jìn)時柵極氧化物層。


光刻


 
圖源:Nikon


所謂的光刻工藝包括掩膜和光蝕刻兩個部分。首先是將具有抗光蝕能力的光刻膠涂敷到晶圓上,在硅基表層形成電路圖案,然后利用光對準(zhǔn)器將晶圓對準(zhǔn)掩膜,晶圓將透過掩膜鏤空部分暴露在紫外線下,此時暴露部分的光刻膠變成可溶狀態(tài),從而將掩膜版上的電路結(jié)構(gòu)臨時復(fù)制到硅基上。


刻蝕


 
圖源:SlideShare


按光刻機刻出的電路結(jié)構(gòu),在硅片上進(jìn)行微觀雕刻,刻出溝槽或接觸孔。具體來說,刻蝕是利用顯影后的光刻膠圖形作為掩模,再借助化學(xué)液體或等離子體在襯底上腐蝕掉一定深度的薄膜物質(zhì),隨后得到與光刻膠圖形相同的集成電路圖形。


離子注入


 
圖源:格芯


離子注入是芯片制造工藝中的一種重要的摻雜技術(shù),也是控制 MOSFET 閾值電壓的一個重要手段。通常是在真空、低溫的環(huán)境下,將磷化氫或三氯化硼雜質(zhì)離子加速,獲得有一定動能的雜質(zhì)離子,然后將離子束攝到敷有光刻膠掩膜的晶圓上。有光刻膠掩蓋的部分,離子束無法穿透光刻膠而被阻擋開來;沒有掩蓋的部分,離子束會被注入到襯底上,實現(xiàn)摻雜,而摻雜深度取決于離子束的能量。最后,在離子注入完成后,必須進(jìn)行光刻膠的徹底清除工作,才能進(jìn)入下一環(huán)節(jié)。


金屬化


 
圖源:Pinterest


金屬化指的是采用沉積等方式將金屬薄膜沉積到晶圓上,再通過金屬薄膜光刻,形成表面金屬連線,將各個元器件連接到一起的工藝。因此第一步就是要刻蝕出接觸孔。第二步是制備金屬薄膜,主要導(dǎo)電金屬材料可能是鋁合金或金,手段通常包括蒸發(fā)、濺射、金屬 CVD 以及電鍍等,目前金屬 CVD 因具有很強的臺階覆蓋能力、良好的高深寬比接觸和無間隙式的填充特性而受到廣泛應(yīng)用。第三步是采用光刻和刻蝕工藝或剝離技術(shù)去除布線以外的部分,形成相互連接的金屬導(dǎo)線。第四步是進(jìn)行合金化的熱處理,從而保證芯片和金屬之間有較好的導(dǎo)電性。最后是平坦化,減少因晶圓表面的不平整度帶來的光傳播的精確度受損,從而影響其準(zhǔn)確地進(jìn)行圖形制作的一種工藝。這種工藝不僅會被用到表層,當(dāng)金屬層增加的時候也會被用到中間層中。


晶圓測試


 
圖源:知乎


當(dāng)載有集成電路的晶圓加工出來之后,需要對其進(jìn)行測試,主要目的是減少封裝的成本,提早篩選出有問題的集成電路模塊(芯片原型)。具體操作是采用探針測試平臺,在無塵室中根據(jù)事先定義好的測試點對芯片原型進(jìn)行交直流、光照等電氣性能測試。該測試通過治具可以對測試平臺上的晶圓進(jìn)行一次性測試,而無需對芯片逐一進(jìn)行,因此測試效率較高。


切割與封裝


 
圖源:The CPU Shack


每個晶圓都包含數(shù)百至上萬個芯片,通過金剛石鋸將晶圓切割成單片,經(jīng)過減薄工序,然后針對每一個單片(芯片)進(jìn)行電氣測試。如果測試結(jié)果有問題,這顆芯片就會被丟棄;如果測試結(jié)果合格,該芯片就會被送去封裝。在封裝前,將會使用顯微鏡對芯片進(jìn)行復(fù)檢,只有通過復(fù)檢的芯片才會被真正封裝起來。


封裝測試


 
IC tester | 圖源:Agilent


對于芯片來說,出廠前測試主要包含三個方面,前兩項分別是晶圓測試和芯片測試,這兩項在上一節(jié)中已經(jīng)描述過了(見“切割與封裝”章節(jié))。而這里重點要將的其實是第三項測試:封裝測試,也就是芯片出廠前測試。據(jù)統(tǒng)計,這三項測試將會占據(jù)整個芯片生產(chǎn)成本的比例高達(dá) 1/4 至 1/2。


此時的待測芯片已經(jīng)包裹了一層封裝,沒有那么脆弱了,因此對于測試環(huán)境要求也沒有那么嚴(yán)苛,不需要無塵室測試了。但是對于封裝測試而言,由于封裝本身的阻擋,測試探針無法觸及芯片內(nèi)部,測試范圍受到限制的同時,也增加了測試的復(fù)雜度。


話不多說,一般的芯片封裝測試包括各種環(huán)境下的消耗功率、發(fā)熱量、運行速度、耐壓度等多項電氣特性測試,在測試過程中往往需要大量的編程、燒錄驗證工序。有的時候根據(jù)客戶的要求,也會做一些針對性測試,看是否滿足客戶的需求。當(dāng)測試結(jié)果一切正常,該芯片就會被打上規(guī)格、型號及出廠日期等絲印,等待打包出廠了。


國內(nèi)外發(fā)展現(xiàn)狀


芯片市場行情


據(jù) IC Insights 數(shù)據(jù)顯示,IC 市場在不斷擴(kuò)大,成為越來越重要的 GDP 驅(qū)動力,預(yù)計 2019-2024 年的相關(guān)系數(shù)將達(dá)到 0.90,高于 2010-2019 年的 0.85。


 
圖源:IC Insights


芯片設(shè)計


對于芯片設(shè)計而言可分為兩大部分來講,第一部分是 EDA(電子設(shè)計自動化)工具,第二部分是芯片設(shè)計。


首先來談一談EDA 工具,根據(jù)電子系統(tǒng)設(shè)計(ESD)聯(lián)盟市場統(tǒng)計服務(wù)(MSS)發(fā)布了關(guān)于 EDA 行業(yè) 2019 年第二季度的調(diào)查報告顯示,EDA 行業(yè) 2019 年第二季度收入為 24.721 億美元,同比 2018 年第二季度的 23.185 億美元,總體呈現(xiàn)增長態(tài)勢,增長幅度為 6.6%。同時,將最近四個季度與前四個季度相比,四個季度的移動平均值增長了 6.0%。可見 EDA 工具需求度在不斷上漲,市場前景廣闊。然而從市場分布的角度看,卻不太樂觀。怎么說?目前全球 EDA 市場主要由 Cadence、Synopsys 和被西門子收購的 Mentor Graphics 三大巨頭壟斷,它們占全球市場的份額超過 60%。而中國的 EDA 工具產(chǎn)業(yè)卻缺乏與先進(jìn)工藝結(jié)合的機會,從而步步落后,缺少深亞微米的 EDA 成體系的設(shè)計平臺。


 
圖源:行芯科技


其次我們來談一談芯片設(shè)計,從市場分布的角度來講,高通是當(dāng)之無愧的手機芯片霸主,而計算機、服務(wù)器 CPU 則是由英特爾和 AMD 分食,對比之下,我國能拿得出手的應(yīng)該就是華為的麒麟系列了。但明明我們大多數(shù)工程師都采用了和國外相同的 EDA 軟件,除了 IP 限制以外,我想阻礙我國在芯片設(shè)計行業(yè)大展拳腳的最大因素肯定就是芯片設(shè)計高端人才了。但是人才不是一朝一夕能培養(yǎng)出來的,尤其是模擬芯片行業(yè)。相對來說,數(shù)字芯片由于經(jīng)驗依賴性小,是我國目前主攻的部分,尤其是 AI 時代的到來,以及中美貿(mào)易戰(zhàn)的警鐘督促,讓本土芯片廠商尋到了一絲契機。


芯片制造、測試


從標(biāo)題我們就可以看出本章節(jié)將會從芯片制造和封裝測試兩個角度來剖析。


我們從芯片制造談起,芯片行業(yè)應(yīng)對芯片需求量上漲的方式不是增加單位晶圓的芯片數(shù)量,而是在不斷增加晶圓的數(shù)據(jù)總量。據(jù) IC Insights 預(yù)測,2020 年可能增加多達(dá) 1790 萬個晶圓(200 mm 當(dāng)量)的新 IC 產(chǎn)能,2021 年將再增加 2080 萬個晶圓的產(chǎn)能。


 
圖源:IC Insights


當(dāng)然,如果有的人說,現(xiàn)在不是在不斷擴(kuò)大晶圓的尺寸嗎?沒錯,但其主要目的是為了降低成本,而非應(yīng)對數(shù)量需求上漲的主要手段。


就目前晶圓代工(芯片制造)市場而言,目前全球主流的幾家晶圓代工廠包括臺積電、英特爾、三星、格芯和中芯國際。據(jù)統(tǒng)計,他們的工藝進(jìn)階如下圖所示:



大家可以發(fā)現(xiàn),對于芯片制造廠商而言,除了芯片 nm 級工藝以外,良率也是他們生產(chǎn)制造能力的主要考量因素。


我國在芯片制造行業(yè)雖顯落后,但近些年的奮起直追,也誕生了像中芯國際、華虹半導(dǎo)體這樣的本土巨頭,成績也算顯著。只是在芯片制程設(shè)備方面還顯沉重,尤其是光刻機這一塊,已經(jīng)成為制約我國芯片制造業(yè)的最大痛點。但在沉重中又有一絲欣慰,這欣慰來自于尹志堯等愛國人士的付出,他們的努力是我國的刻蝕設(shè)備走上了國際頂尖水平,目前已攻破 5nm 難關(guān)。


接下來,我們再來談一談封裝測試,從全球范圍來看,封裝測試市場排名世界第一的是臺灣地區(qū)的日月光公司,而出于成本和市場的考慮,不少半導(dǎo)體廠商選擇將封測廠轉(zhuǎn)移到中國,因此國內(nèi)封測產(chǎn)業(yè)已經(jīng)具備了一定的規(guī)模和技術(shù)基礎(chǔ)。立足中國,差距在不斷縮小,本土的長電科技、華天科技和通富微電發(fā)展也不錯,對比芯片設(shè)計、制造行業(yè)而言,封測可以說是芯片產(chǎn)業(yè)中國內(nèi)發(fā)展較好的一塊了。


寫在最后


對于芯片行業(yè)或者說集成電路行業(yè)來說,缺的從來不是市場,而是工藝、技術(shù)的比肩。對于像中國這樣的發(fā)展中國家而言,我們從前落后,但當(dāng)下我們可以抓住 AI 的機遇,讓自己從低端市場向高端市場爬坡,挑戰(zhàn)是不可避免的,沉下心來做技術(shù)才能成就一個產(chǎn)業(yè)。未來,無人可知,吾輩只需努力!