標(biāo)簽性能綜合測試儀

產(chǎn)品詳情：

功能簡介：
標(biāo)簽性能綜合測試儀是一臺用于超高頻和高頻標(biāo)簽性能測量和評估的檢測設(shè)備，該儀器使用了新一代電子元器件，使設(shè)備更小巧精致，處理能力更強，測試速度更快，配有多種測試選件和附件，客戶可按需求選擇，后續(xù)升級靈活方便，節(jié)省成本。
主要測試參數(shù)：
1.標(biāo)簽的激活靈敏度
2.標(biāo)簽激活電場強度
3.標(biāo)簽反方向散射功率
4.標(biāo)簽正反方向識讀距離
5.天線接收反向散射功率
6.天線接收反向散射信號相位
7.天線接收反向散射截面積
主要測試能力：
設(shè)計性能測試：用于標(biāo)簽設(shè)計和標(biāo)簽選型測試，可實時判定標(biāo)簽各項性能，對比標(biāo)簽在不同封裝形勢下的性能變化，確定標(biāo)簽改進方向。
應(yīng)用場景測試：用于測試標(biāo)簽在現(xiàn)場應(yīng)用環(huán)境下的性能，如多標(biāo)簽堆疊場景，移動場景等，并結(jié)合群標(biāo)簽管理器，動態(tài)跟蹤特定標(biāo)簽在應(yīng)用場景中的響應(yīng)情況。