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測試儀
  • 基于 NI TestStand 管理軟件，設(shè)計(jì)了一套測試軟件，實(shí)現(xiàn)了對符合 ISO/IEC 18000-63 協(xié)議的芯片清點(diǎn)功能的測試。本測試軟件使用 NI RFID 測試儀，根據(jù)測試設(shè)計(jì)人員的需求開發(fā)出自動化測試序列，自動完成與被測芯片的通信交互，實(shí)現(xiàn)對響應(yīng)的判斷，并完成結(jié)果的保存。該軟件充分采用了 NI TestStand，相比之前測試清點(diǎn)功能的傳統(tǒng)的手動測試、半自動測試，測試時(shí)間分別縮短了 5/6、2/3。實(shí)踐證明，使用本測試軟件可以提高對超高頻電子標(biāo)簽開展功能測試的效率。
  • 本文介紹了如何利用芬蘭的標(biāo)簽性能測試儀來測試超高頻RFID讀寫器天線的方向圖和增益。
  • 所謂天線方向圖，是指在離天線一定距離處，輻射場的相對場強(qiáng)隨方向變化的圖形，通常采用通過天線最大輻射方向上的兩個(gè)相互垂直的平面方向圖來表示，天線方向圖是衡量天線性能的重要圖形;天線增益則是天線把輸入功率(能量)集中輻射的程度，從通信角度講，就是在某個(gè)方向上和范圍內(nèi)產(chǎn)生信號能力的大小。本文介紹了如何利用芬蘭的標(biāo)簽性能測試儀來測試超高頻RFID讀寫器天線的方向圖和增益。
  • 提出一種測試UHF頻段無源RFID標(biāo)簽芯片靈敏度的方法。該方法依據(jù)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和標(biāo)簽測試儀接口特性阻抗相同的特性，利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試標(biāo)簽芯片的反射系數(shù)，然后通過標(biāo)簽測試儀測試芯片和儀器接口的匹配損耗，進(jìn)而計(jì)算標(biāo)簽芯片的靈敏度。利用該方法對NXP_G2XM芯片和ImPINj_Monza3芯片在800～1 000 MHz頻段內(nèi)靈敏度進(jìn)行測試，并將測試結(jié)果與datasheet進(jìn)行對照，分析誤差產(chǎn)生的原因，最終證明此方法的準(zhǔn)確性。該測試方法采用常規(guī)儀器對800～1 000 MHz頻段內(nèi)靈敏度進(jìn)行測試，有重要實(shí)際意義。
  • 以前，RF測試相對簡單。你可測量發(fā)射器的功率輸出，借助頻譜分析儀偵測噪聲。在接收器端，則測量噪聲和靈敏度。不幸的是，這些輕松的日子一去不復(fù)返了。